Kamischke, R. ; Kollmer, F. ; Fuchs, H. ; Stark, R. ; Heckl, W. ; Benninghoven, A. (1999)
Chemical characterization of modified nanotips by TOF-SIMS and Laser-SNMS.
Proc. XII Conf. on Secondary Ion Mass Spectroscopy SIMS XII. Brussels
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
Typ des Eintrags: | Konferenzveröffentlichung |
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Erschienen: | 1999 |
Autor(en): | Kamischke, R. ; Kollmer, F. ; Fuchs, H. ; Stark, R. ; Heckl, W. ; Benninghoven, A. |
Art des Eintrags: | Bibliographie |
Titel: | Chemical characterization of modified nanotips by TOF-SIMS and Laser-SNMS |
Sprache: | Englisch |
Publikationsjahr: | 1999 |
Veranstaltungstitel: | Proc. XII Conf. on Secondary Ion Mass Spectroscopy SIMS XII |
Veranstaltungsort: | Brussels |
Fachbereich(e)/-gebiet(e): | nicht bekannt ?? fb99_csi~fg5 ?? Zentrale Einrichtungen |
Hinterlegungsdatum: | 09 Sep 2010 08:23 |
Letzte Änderung: | 05 Mär 2013 09:36 |
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