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Methodology for the structural characterisation of VxOy species supported on silica under reaction conditions by means of in situ O K-edge X-ray absorption spectroscopy

Hävecker, Michael ; Cavalleri, Matteo ; Herbert, Rita ; Follath, Rolf ; Knop-Gericke, Axel ; Hess, Christian ; Hermann, Klaus ; Schlögl, Robert (2009)
Methodology for the structural characterisation of VxOy species supported on silica under reaction conditions by means of in situ O K-edge X-ray absorption spectroscopy.
In: Physica Status Solidi (b), 246 (7)
doi: 10.1002/pssb.200945067
Artikel, Bibliographie

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 2009
Autor(en): Hävecker, Michael ; Cavalleri, Matteo ; Herbert, Rita ; Follath, Rolf ; Knop-Gericke, Axel ; Hess, Christian ; Hermann, Klaus ; Schlögl, Robert
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Methodology for the structural characterisation of VxOy species supported on silica under reaction conditions by means of in situ O K-edge X-ray absorption spectroscopy
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 2009
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Physica Status Solidi (b)
Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: 246
(Heft-)Nummer: 7
DOI: 10.1002/pssb.200945067
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 07 Fachbereich Chemie
07 Fachbereich Chemie > Eduard Zintl-Institut > Fachgebiet Physikalische Chemie
Hinterlegungsdatum: 28 Okt 2010 13:50
Letzte Änderung: 05 Mär 2013 09:35
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