Baake, Olaf (2010)
Chemische Charakterisierung von Bor- und Siliziumcarbonitridschichten: Bestimmung der chemischen Bindungen mittels TXRF-NEXAFS und XPS.
Buch, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Buch |
|---|---|
| Erschienen: | 2010 |
| Autor(en): | Baake, Olaf |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Chemische Charakterisierung von Bor- und Siliziumcarbonitridschichten: Bestimmung der chemischen Bindungen mittels TXRF-NEXAFS und XPS |
| Sprache: | Deutsch |
| Publikationsjahr: | 2010 |
| Ort: | Saarbrücken |
| Verlag: | Südwestdeutscher Verlag für Hochschulschriften |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Materialanalytik 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften |
| Hinterlegungsdatum: | 07 Mai 2010 13:13 |
| Letzte Änderung: | 05 Mär 2013 09:33 |
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