Mutter, R. ; Strobl, G. ; Stühn, B. (1993)
Structure of thin block copolymer films studied by X-ray reflectivity.
In: Fresenius Journal of Analytical Chemistry, 346 (1-3)
Artikel, Bibliographie
Kurzbeschreibung (Abstract)
X-ray reflectivity may be used to determine the internal structure of thin polymer films. An electron density difference of 10% for polystyrene and polyisoprene is sufficient to distinguish between a random distribution of lamellae, complete orientation parallel to the substrate surface and a surface induced formation of lamellae. The disappearance of the lamellar Bragg-peaks, with heating of the film, shows the transition into the disordered state.
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 1993 |
| Autor(en): | Mutter, R. ; Strobl, G. ; Stühn, B. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Structure of thin block copolymer films studied by X-ray reflectivity |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | Mai 1993 |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Fresenius Journal of Analytical Chemistry |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 346 |
| (Heft-)Nummer: | 1-3 |
| Kurzbeschreibung (Abstract): | X-ray reflectivity may be used to determine the internal structure of thin polymer films. An electron density difference of 10% for polystyrene and polyisoprene is sufficient to distinguish between a random distribution of lamellae, complete orientation parallel to the substrate surface and a surface induced formation of lamellae. The disappearance of the lamellar Bragg-peaks, with heating of the film, shows the transition into the disordered state. |
| Zusätzliche Informationen: | 7TH WORKING CONF ON APPLIED SURFACE ANALYSIS, JULICH, GERMANY, JUN 22-25, 1992 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 05 Fachbereich Physik 05 Fachbereich Physik > Institut für Festkörperphysik (2021 umbenannt in Institut für Physik Kondensierter Materie (IPKM)) |
| Hinterlegungsdatum: | 26 Feb 2010 13:52 |
| Letzte Änderung: | 05 Mär 2013 09:32 |
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