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A method to correct defocused element distribution maps in electron probe microanalysis

Kluckner, Manfred :
A method to correct defocused element distribution maps in electron probe microanalysis.
In: Tagung Festkörperanalytik <8, 1995, Wien>: Kurzfassung der Posterbeitr. S. 124 .
[Konferenz- oder Workshop-Beitrag], (1995)

Typ des Eintrags: Konferenz- oder Workshop-Beitrag (Keine Angabe)
Erschienen: 1995
Autor(en): Kluckner, Manfred
Titel: A method to correct defocused element distribution maps in electron probe microanalysis
Sprache: Deutsch
Reihe: Tagung Festkörperanalytik <8, 1995, Wien>: Kurzfassung der Posterbeitr. S. 124
Fachbereich(e)/-gebiet(e): FB Materialwissenschaft (aufgegangen in FB11)
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 15:58
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