Baake, Olaf ; Öksüzoglu, Ramis M. ; Flege, Stefan ; Hoffmann, P. S. ; Gottschalk, S. ; Fuess, H. ; Ortner, H. M. (2006)
Determination of thickness, density and roughness of Co-Ni-Al single and multiple layer films deposited by high-vacuum e-beam evaporation on different substrates.
In: Materials Characterization, 57 (1)
Artikel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2006 |
| Autor(en): | Baake, Olaf ; Öksüzoglu, Ramis M. ; Flege, Stefan ; Hoffmann, P. S. ; Gottschalk, S. ; Fuess, H. ; Ortner, H. M. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Determination of thickness, density and roughness of Co-Ni-Al single and multiple layer films deposited by high-vacuum e-beam evaporation on different substrates |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 2006 |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Materials Characterization |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 57 |
| (Heft-)Nummer: | 1 |
| URL / URN: | http://www.sciencedirect.com/science/article/B6TXJ-4HXBGRX-1... |
| Freie Schlagworte: | X-ray reflectometry |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Materialanalytik 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften |
| Hinterlegungsdatum: | 17 Jun 2009 11:44 |
| Letzte Änderung: | 05 Mär 2013 09:20 |
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