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Experience with aging and humidity tests according to IEC report 932

Klös, Hans-Joachim ; Park, W.-K. ; König, D. (1995)
Experience with aging and humidity tests according to IEC report 932.
Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena, (CEIDP). Virginia Beach, VA, USA (22.10.1995-25.10.1995)
doi: 10.1109/CEIDP.1995.483718
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

Typ des Eintrags: Konferenzveröffentlichung
Erschienen: 1995
Autor(en): Klös, Hans-Joachim ; Park, W.-K. ; König, D.
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Experience with aging and humidity tests according to IEC report 932
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 1995
Ort: Piscataway
Verlag: IEEE
Buchtitel: Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena: Annual report 1995
Veranstaltungstitel: Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena, (CEIDP)
Veranstaltungsort: Virginia Beach, VA, USA
Veranstaltungsdatum: 22.10.1995-25.10.1995
DOI: 10.1109/CEIDP.1995.483718
Fachbereich(e)/-gebiet(e): ?? fb17-EX ??
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 15:58
Letzte Änderung: 23 Okt 2024 11:04
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