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Van-der-Waals-Grenzflächen auf Silizium (111) : atomare Struktur und elektronische Eigenschaften

Jäckel, Bengt (2006)
Van-der-Waals-Grenzflächen auf Silizium (111) : atomare Struktur und elektronische Eigenschaften.
Technische Universität Darmstadt
Dissertation, Bibliographie

Typ des Eintrags: Dissertation
Erschienen: 2006
Autor(en): Jäckel, Bengt
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Van-der-Waals-Grenzflächen auf Silizium (111) : atomare Struktur und elektronische Eigenschaften
Sprache: Deutsch
Publikationsjahr: 2006
Ort: Aachen
Verlag: Shaker
Kollation: VII, 208 S. : Ill., graph. Darst.
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften
Hinterlegungsdatum: 20 Nov 2008 08:26
Letzte Änderung: 05 Mär 2013 09:13
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