Hunger, R. ; Fritsche, R. ; Jäckel, B. ; Jaegermann, W. ; Webb, L. ; Lewis, N. S. (2005)
Chemical and electronic characterization of methyl-terminated Si(111) surfaces by high-resolution synchrotron photoelectron spectroscopy.
In: Physical Review B, 72 (4)
doi: 10.1103/PhysRevB.72.045317
Artikel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2005 |
| Autor(en): | Hunger, R. ; Fritsche, R. ; Jäckel, B. ; Jaegermann, W. ; Webb, L. ; Lewis, N. S. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Chemical and electronic characterization of methyl-terminated Si(111) surfaces by high-resolution synchrotron photoelectron spectroscopy |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 8 Juli 2005 |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Physical Review B |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 72 |
| (Heft-)Nummer: | 4 |
| Reihe: | Physical Review B |
| DOI: | 10.1103/PhysRevB.72.045317 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Oberflächenforschung |
| Hinterlegungsdatum: | 20 Nov 2008 08:24 |
| Letzte Änderung: | 20 Feb 2020 13:24 |
| PPN: | |
| Export: | |
| Suche nach Titel in: | TUfind oder in Google |
 |
Frage zum Eintrag |
Optionen (nur für Redakteure)
 |
Redaktionelle Details anzeigen |
Drucken
Impressum