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A general stability analysis of FIT/FDTD applied to lossy dielectrics and lumped elements

Edelvik, F. ; Schuhmann, Rolf ; Weiland, Thomas (2004)
A general stability analysis of FIT/FDTD applied to lossy dielectrics and lumped elements.
In: International Journal of numerical modelling, 17 (4)
doi: 10.1002/jnm.547
Artikel, Bibliographie

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 2004
Autor(en): Edelvik, F. ; Schuhmann, Rolf ; Weiland, Thomas
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: A general stability analysis of FIT/FDTD applied to lossy dielectrics and lumped elements
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 29 Juni 2004
Verlag: Wiley-Blackwell-STM
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: International Journal of numerical modelling
Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: 17
(Heft-)Nummer: 4
DOI: 10.1002/jnm.547
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
Hinterlegungsdatum: 20 Nov 2008 08:20
Letzte Änderung: 12 Mai 2020 11:00
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