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Interference phenomena observed by x-ray diffraction in nanocrystalline thin films

Rafaja, David ; Klemm, V. ; Schreiber, G. ; Knapp, Michael ; Kuzel, R. :
Interference phenomena observed by x-ray diffraction in nanocrystalline thin films.
In: Journal of applied crystallography, 37 pp. 613-620.
[Artikel], (2004)

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 2004
Autor(en): Rafaja, David ; Klemm, V. ; Schreiber, G. ; Knapp, Michael ; Kuzel, R.
Titel: Interference phenomena observed by x-ray diffraction in nanocrystalline thin films
Sprache: Deutsch
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Journal of applied crystallography
Band: 37
Fachbereich(e)/-gebiet(e): Fachbereich Material- und Geowissenschaften
Hinterlegungsdatum: 20 Nov 2008 08:19
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