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Synchrotron X-ray wavelength calibration using a diamond internal standard : application to low-temperature thermal-expansion studies

Paszkowicz, W. ; Knapp, Michael ; Baehtz, Carsten ; Minikayev, R. ; Piszora, P. ; Jiang, J. Z. ; Bacewicz, R. :
Synchrotron X-ray wavelength calibration using a diamond internal standard : application to low-temperature thermal-expansion studies.
In: Journal of alloys and compounds, 382 pp. 107-111.
[Artikel], (2004)

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 2004
Autor(en): Paszkowicz, W. ; Knapp, Michael ; Baehtz, Carsten ; Minikayev, R. ; Piszora, P. ; Jiang, J. Z. ; Bacewicz, R.
Titel: Synchrotron X-ray wavelength calibration using a diamond internal standard : application to low-temperature thermal-expansion studies
Sprache: Englisch
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Journal of alloys and compounds
Band: 382
Fachbereich(e)/-gebiet(e): Fachbereich Material- und Geowissenschaften
Hinterlegungsdatum: 20 Nov 2008 08:19
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