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Simulation of hysteresis effects with the classical Preisach model in FI2TD methods

Yuan, Jing ; Clemens, Markus ; Weiland, Thomas :
Simulation of hysteresis effects with the classical Preisach model in FI2TD methods.
In: International journal of applied electromagnetics and mechanics, 18 pp. 1-5.
[Artikel], (2003)

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 2003
Autor(en): Yuan, Jing ; Clemens, Markus ; Weiland, Thomas
Titel: Simulation of hysteresis effects with the classical Preisach model in FI2TD methods
Sprache: Englisch
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: International journal of applied electromagnetics and mechanics
Band: 18
Fachbereich(e)/-gebiet(e): Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
Hinterlegungsdatum: 20 Nov 2008 08:18
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