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Simulation of hysteresis effects using the classical Preisach model in FI2TD formulations

Yuan, Jing ; Clemens, Markus ; Weiland, Thomas :
Simulation of hysteresis effects using the classical Preisach model in FI2TD formulations.
In: International Symposium on Applied Electromagnetics and Mechanics <11, 2003, Versailles>: Special volume, proceedings ... ISEM-Versailles : [... took place on May 12 - 14, 2003 ... Versailles] / [guest ed. Alain Bossavit ...].- Amsterdam [u.a.] : IOS Pres . IOS Press , Amsterdam [u.a.]
[Konferenz- oder Workshop-Beitrag], (2004)

Typ des Eintrags: Konferenz- oder Workshop-Beitrag (Keine Angabe)
Erschienen: 2004
Autor(en): Yuan, Jing ; Clemens, Markus ; Weiland, Thomas
Titel: Simulation of hysteresis effects using the classical Preisach model in FI2TD formulations
Sprache: Englisch
Reihe: International Symposium on Applied Electromagnetics and Mechanics <11, 2003, Versailles>: Special volume, proceedings ... ISEM-Versailles : [... took place on May 12 - 14, 2003 ... Versailles] / [guest ed. Alain Bossavit ...].- Amsterdam [u.a.] : IOS Pres
Ort: Amsterdam [u.a.]
Verlag: IOS Press
Fachbereich(e)/-gebiet(e): Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
Hinterlegungsdatum: 20 Nov 2008 08:18
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