Sigmund, Jochen ; Saglam, Mustafa ; Hartnagel, Hans L. ; Miehe, Gerhard ; Fuess, Hartmut (2002)
Influence of growth interruptions at AlSb/InAs interfaces on the atomic morphology and electron transport properties.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Konferenzveröffentlichung |
|---|---|
| Erschienen: | 2002 |
| Autor(en): | Sigmund, Jochen ; Saglam, Mustafa ; Hartnagel, Hans L. ; Miehe, Gerhard ; Fuess, Hartmut |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Influence of growth interruptions at AlSb/InAs interfaces on the atomic morphology and electron transport properties |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 2002 |
| Reihe: | International Conference on Molecular Beam Epitaxy <12, 2002, San Francisco, Calif.>: Digest ...- 2002 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Mikrowellenelektronik |
| Hinterlegungsdatum: | 19 Nov 2008 16:30 |
| Letzte Änderung: | 14 Feb 2019 10:47 |
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