Keim, Sabine ; König, Dieter ; Eiselt, M. ; Kluge, M. (2002)
Standardized and non-standardized aging tests for switchgear and switchgear-components under severe climatic conditions.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
Typ des Eintrags: | Konferenzveröffentlichung |
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Erschienen: | 2002 |
Autor(en): | Keim, Sabine ; König, Dieter ; Eiselt, M. ; Kluge, M. |
Art des Eintrags: | Bibliographie |
Titel: | Standardized and non-standardized aging tests for switchgear and switchgear-components under severe climatic conditions |
Sprache: | Englisch |
Publikationsjahr: | 2002 |
Ort: | Piscataway, NJ |
Verlag: | IEEE Operations Center |
Reihe: | International Symposium on Electrical Insulation <2002, Boston, Mass.> : Conference record of the 2002 IEEE international symposium ... : Boston, Mass., April 7-10, 2002 (ISEI 2002).- Piscataway, NJ : IEEE Operations Center, 2002. S. 331-335 |
Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Elektrische Energiesysteme > Hochspannungstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Elektrische Energiesysteme |
Hinterlegungsdatum: | 19 Nov 2008 16:29 |
Letzte Änderung: | 14 Sep 2015 08:15 |
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