| Typ des Eintrags: |
Konferenzveröffentlichung
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| Erschienen: |
2001 |
| Autor(en): |
Farhat, N. ; Sessler, Gerhard M. |
| Art des Eintrags: |
Bibliographie |
| Titel: |
Determination of the charge centroid and the total charge injected by corona process in silicon dioxide/silicon samples |
| Sprache: |
Englisch |
| Publikationsjahr: |
2001 |
| Ort: |
Paris |
| Verlag: |
Societé Francaise du Vide |
| Reihe: |
International Conference on Electric Charges in Nonconductive Materials <4, 2001, Paris>: Proceedings. S. 358-361. - Paris: Societé Francaise du Vide, 2001 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): |
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik |
| Hinterlegungsdatum: |
19 Nov 2008 16:28 |
| Letzte Änderung: |
16 Jul 2014 12:52 |
| PPN: |
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| Export: |
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