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Characterisation of thin films containing Au and Pd nanoparticles by grazing incidence X-ray diffraction and related methods

Pelka, J. B. ; Paszkowicz, W. ; Dluzewski, P. ; Brust, M. ; Kiely, C. J. ; Knapp, M. ; Czerwosz, E. :
Characterisation of thin films containing Au and Pd nanoparticles by grazing incidence X-ray diffraction and related methods.
In: Journal of alloys compounds, 328 pp. 248-252.
[Artikel], (2001)

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 2001
Autor(en): Pelka, J. B. ; Paszkowicz, W. ; Dluzewski, P. ; Brust, M. ; Kiely, C. J. ; Knapp, M. ; Czerwosz, E.
Titel: Characterisation of thin films containing Au and Pd nanoparticles by grazing incidence X-ray diffraction and related methods
Sprache: Englisch
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Journal of alloys compounds
Band: 328
Fachbereich(e)/-gebiet(e): Fachbereich Material- und Geowissenschaften
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 16:26
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