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Transient deformation measurement with electronic speckle pattern interferomety by use of a holographic optical element for spatial phase stepping

Garcia, Bernardino Barrientos ; Moore, A. J. ; Perez-Lopez, C. ; Wang, L. ; Tschudi, Theo :
Transient deformation measurement with electronic speckle pattern interferomety by use of a holographic optical element for spatial phase stepping.
In: Applied optics, 38
[Artikel], (1999)

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 1999
Autor(en): Garcia, Bernardino Barrientos ; Moore, A. J. ; Perez-Lopez, C. ; Wang, L. ; Tschudi, Theo
Titel: Transient deformation measurement with electronic speckle pattern interferomety by use of a holographic optical element for spatial phase stepping
Sprache: Englisch
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Applied optics
Band: 38
Fachbereich(e)/-gebiet(e): Fachbereich Physik
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 16:26
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