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Fault arc tests in cable bundles under microgravity conditions

Hanson, Josef ; König, D. ; Judd, M. ; Reher, H. J. (2000)
Fault arc tests in cable bundles under microgravity conditions.
In: IEEE Transactions on dielectrics and electrical insulation, 7
Artikel, Bibliographie

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 2000
Autor(en): Hanson, Josef ; König, D. ; Judd, M. ; Reher, H. J.
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Fault arc tests in cable bundles under microgravity conditions
Sprache: Deutsch
Publikationsjahr: 2000
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: IEEE Transactions on dielectrics and electrical insulation
Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: 7
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 16:25
Letzte Änderung: 10 Mai 2023 10:02
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