Hanson, Josef ; König, D. ; Judd, M. ; Reher, H. J. (2000)
Fault arc tests in cable bundles under microgravity conditions.
In: IEEE Transactions on dielectrics and electrical insulation, 7
Artikel, Bibliographie
Typ des Eintrags: | Artikel |
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Erschienen: | 2000 |
Autor(en): | Hanson, Josef ; König, D. ; Judd, M. ; Reher, H. J. |
Art des Eintrags: | Bibliographie |
Titel: | Fault arc tests in cable bundles under microgravity conditions |
Sprache: | Deutsch |
Publikationsjahr: | 2000 |
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | IEEE Transactions on dielectrics and electrical insulation |
Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 7 |
Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik |
Hinterlegungsdatum: | 19 Nov 2008 16:25 |
Letzte Änderung: | 10 Mai 2023 10:02 |
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