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Simulation of prebreakdown phenomena at a gas/solid interface in a 10 % SF6/N2 mixture stressed by very fast transient voltages

Pfeiffer, Wolfgang ; Schoen, D. ; Tong, L. Z. :
Simulation of prebreakdown phenomena at a gas/solid interface in a 10 % SF6/N2 mixture stressed by very fast transient voltages.
In: IEEE International Symposium on Electrical Insulation <2000, Anaheim, CA>: Proceedings. S. 408-411. - Piscataway, NY: IEEE Service Center, 2000 . IEEE Service Center , Piscataway, NY
[Konferenz- oder Workshop-Beitrag], (2000)

Typ des Eintrags: Konferenz- oder Workshop-Beitrag (Keine Angabe)
Erschienen: 2000
Autor(en): Pfeiffer, Wolfgang ; Schoen, D. ; Tong, L. Z.
Titel: Simulation of prebreakdown phenomena at a gas/solid interface in a 10 % SF6/N2 mixture stressed by very fast transient voltages
Sprache: Englisch
Reihe: IEEE International Symposium on Electrical Insulation <2000, Anaheim, CA>: Proceedings. S. 408-411. - Piscataway, NY: IEEE Service Center, 2000
Ort: Piscataway, NY
Verlag: IEEE Service Center
Fachbereich(e)/-gebiet(e): Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 16:25
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