| Typ des Eintrags: |
Konferenzveröffentlichung
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| Erschienen: |
2000 |
| Autor(en): |
Pfeiffer, Wolfgang ; Schoen, D. ; Tong, L. Z. |
| Art des Eintrags: |
Bibliographie |
| Titel: |
Simulation of prebreakdown phenomena at a gas/solid interface in a 10 % SF6/N2 mixture stressed by very fast transient voltages |
| Sprache: |
Englisch |
| Publikationsjahr: |
2000 |
| Ort: |
Piscataway, NY |
| Verlag: |
IEEE Service Center |
| Reihe: |
IEEE International Symposium on Electrical Insulation <2000, Anaheim, CA>: Proceedings. S. 408-411. - Piscataway, NY: IEEE Service Center, 2000 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): |
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik |
| Hinterlegungsdatum: |
19 Nov 2008 16:25 |
| Letzte Änderung: |
05 Mär 2013 08:49 |
| PPN: |
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| Export: |
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