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A method for HBT process control and defect detection using pulsed electrical stress

Sydlo, Cezary ; Mottet, B. ; Schuessler, M. ; Brandt, M. ; Hartnagel, H. L. (2000)
A method for HBT process control and defect detection using pulsed electrical stress.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

Typ des Eintrags: Konferenzveröffentlichung
Erschienen: 2000
Autor(en): Sydlo, Cezary ; Mottet, B. ; Schuessler, M. ; Brandt, M. ; Hartnagel, H. L.
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: A method for HBT process control and defect detection using pulsed electrical stress
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 1 Januar 2000
Ort: Oxford
Verlag: Pergamon
Reihe: ESREF 2000: European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis <11, 2000, Dresden>: Proceedings. S. 1449-1453. - Oxford: Pergamon, 2000
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Mikrowellenelektronik
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 16:25
Letzte Änderung: 11 Dez 2019 07:29
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