Sydlo, Cezary ; Mottet, B. ; Schuessler, M. ; Brandt, M. ; Hartnagel, H. L. (2000)
A method for HBT process control and defect detection using pulsed electrical stress.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Konferenzveröffentlichung |
|---|---|
| Erschienen: | 2000 |
| Autor(en): | Sydlo, Cezary ; Mottet, B. ; Schuessler, M. ; Brandt, M. ; Hartnagel, H. L. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | A method for HBT process control and defect detection using pulsed electrical stress |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 2000 |
| Ort: | Oxford |
| Verlag: | Pergamon |
| Reihe: | ESREF 2000: European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis <11, 2000, Dresden>: Proceedings. S. 1449-1453. - Oxford: Pergamon, 2000 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Mikrowellenelektronik |
| Hinterlegungsdatum: | 19 Nov 2008 16:25 |
| Letzte Änderung: | 11 Dez 2019 07:29 |
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