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Cation impurity diffusion in polycrystalline La0.8Sr0.2Ga0.8Mg0.2O2.8 studied by SIMS

Schulz, O. ; Martin, M. :
Cation impurity diffusion in polycrystalline La0.8Sr0.2Ga0.8Mg0.2O2.8 studied by SIMS.
In: Mass and charge transport in inorganic materials: fundamentals to devices; Proceedings of the International Conference, Mai 2000, Venice. - Faenza: Techna, 2000. S. 83 . Techna , Faenza
[Konferenz- oder Workshop-Beitrag], (2000)

Typ des Eintrags: Konferenz- oder Workshop-Beitrag (Keine Angabe)
Erschienen: 2000
Autor(en): Schulz, O. ; Martin, M.
Titel: Cation impurity diffusion in polycrystalline La0.8Sr0.2Ga0.8Mg0.2O2.8 studied by SIMS
Sprache: Deutsch
Reihe: Mass and charge transport in inorganic materials: fundamentals to devices; Proceedings of the International Conference, Mai 2000, Venice. - Faenza: Techna, 2000. S. 83
Ort: Faenza
Verlag: Techna
Fachbereich(e)/-gebiet(e): Fachbereich Chemie
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 16:24
Zusätzliche Informationen:

Zeichendarst. im Sachtitel teilw. nicht vorlagegemäß wiedergegeben

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