Schulz, O. ; Martin, M. (2000)
Cation impurity diffusion in polycrystalline La0.8Sr0.2Ga0.8Mg0.2O2.8 studied by SIMS.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
Typ des Eintrags: | Konferenzveröffentlichung |
---|---|
Erschienen: | 2000 |
Autor(en): | Schulz, O. ; Martin, M. |
Art des Eintrags: | Bibliographie |
Titel: | Cation impurity diffusion in polycrystalline La0.8Sr0.2Ga0.8Mg0.2O2.8 studied by SIMS |
Sprache: | Deutsch |
Publikationsjahr: | 2000 |
Ort: | Faenza |
Verlag: | Techna |
Reihe: | Mass and charge transport in inorganic materials: fundamentals to devices; Proceedings of the International Conference, Mai 2000, Venice. - Faenza: Techna, 2000. S. 83 |
Zusätzliche Informationen: | Zeichendarst. im Sachtitel teilw. nicht vorlagegemäß wiedergegeben |
Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 07 Fachbereich Chemie |
Hinterlegungsdatum: | 19 Nov 2008 16:24 |
Letzte Änderung: | 05 Mär 2013 08:48 |
PPN: | |
Export: | |
Suche nach Titel in: | TUfind oder in Google |
Frage zum Eintrag |
Optionen (nur für Redakteure)
Redaktionelle Details anzeigen |