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Scan quality estimation for industrial computed tomography using convolutional neural networks

Kaufmann, Manuel ; Volland, Vivien ; Chen, Yifei ; Effenberger, Ira ; Veyhl, Christoph (2021)
Scan quality estimation for industrial computed tomography using convolutional neural networks.
Fifteenth International Conference on Quality Control by Artificial Vision. Tokushima, Japan (16.07.2021-16.07.2021)
doi: 10.1117/12.2588990
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

Typ des Eintrags: Konferenzveröffentlichung
Erschienen: 2021
Autor(en): Kaufmann, Manuel ; Volland, Vivien ; Chen, Yifei ; Effenberger, Ira ; Veyhl, Christoph
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Scan quality estimation for industrial computed tomography using convolutional neural networks
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 2021
Ort: Bellingham, Washington, USA
Verlag: SPIE
Buchtitel: Fifteenth International Conference on Quality Control by Artificial Vision : 12-14 May 2021, virtual Tokushima, Japan
Reihe: Proceedings of SPIE
Band einer Reihe: 11794
Veranstaltungstitel: Fifteenth International Conference on Quality Control by Artificial Vision
Veranstaltungsort: Tokushima, Japan
Veranstaltungsdatum: 16.07.2021-16.07.2021
DOI: 10.1117/12.2588990
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 13 Fachbereich Bau- und Umweltingenieurwissenschaften
13 Fachbereich Bau- und Umweltingenieurwissenschaften > Institut für Geodäsie
13 Fachbereich Bau- und Umweltingenieurwissenschaften > Institut für Geodäsie > Geodetic Measuring Systems and Sensor Technology
Hinterlegungsdatum: 09 Feb 2024 05:41
Letzte Änderung: 09 Feb 2024 05:41
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