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Accelerated Lifetime Testing of Off-Line LED Drivers

Keil, Ferdinand (2023)
Accelerated Lifetime Testing of Off-Line LED Drivers.
Technische Universität Darmstadt
doi: 10.26083/tuprints-00023782
Dissertation, Erstveröffentlichung, Verlagsversion

Kurzbeschreibung (Abstract)

It took just ten years for LEDs to become the most successful lighting technology by market share. Their high energy efficiency and long lifetime make them the first choice in many lighting applications. However, failures of LED based luminaires can still be observed. If public lighting installations such as street lights fail it can even make the news. Previous research has shown that the driver is the culprit in most of these cases. This work tries to answer how long modern drivers can survive in a given environmental condition, which external factors and driver properties affect the lifetime and what the lifetime limiting failure modes are.

An accelerated lifetime study with a total of 75 tested devices is conducted and its results are analysed. Four different environmental conditions are selected for the tests, namely dry heat at 85 °C and damp heat at 65 °C and 90 % relative humidity as well as 75 °C / 75 % and 85 °C / 85 %. During testing 39 failures are observed. A first analysis focuses on the degradation of aluminium electrolytic capacitors in dry heat. It can be shown that the parametric changes are negligible. This is followed by a forensic failure mode analysis that successfully uncovers the failure modes of 27 failed devices. Dielectric breakdown of the PCB and IC package defects are determined to be the most common failure causes. It is also demonstrated that MOVs are at risk of failing in certain circuit configurations.

Two physical accelerated failure time models get fitted for three drivers with complete datasets. Plotting the resulting lifetime model for a range of temperature/humidity combinations shows that these drivers will likely outlast the lifetime guaranteed by the manufacturer in their respective data sheets. An extension is proposed to apply the models to three drivers whose datasets contain right-censored values. It can be demonstrated that these drivers will meet the guaranteed lifetime as well. The Cox Proportional Hazards model, a model from the field of survival analysis, is applied to the data from the 85 °C / 85 % condition to identify driver properties that affect the lifetime. The three best fitting models are selected and their parameters are whether a driver's output current is programmable, its maximum output power in Watt and which PCB substrate was used for the circuit assembly. Based on the previous results a list of recommendations for future off-line driver designs is compiled.

In conclusion, this work demonstrates that modern off-line LED drivers can reach the manufacturer specified lifetimes based on the results of the accelerated life study. Drivers fail if subjected to high levels of humidity. Choosing FR-4 as the PCB substrate can significantly lower a driver's risk of failure. If it fails, the most common failure modes are dielectric breakdown of the PCB and a defect of an IC package.

Typ des Eintrags: Dissertation
Erschienen: 2023
Autor(en): Keil, Ferdinand
Art des Eintrags: Erstveröffentlichung
Titel: Accelerated Lifetime Testing of Off-Line LED Drivers
Sprache: Englisch
Referenten: Hofmann, Prof. Dr. Klaus ; Khanh, Prof. Dr. Tran Quoc
Publikationsjahr: 2023
Ort: Darmstadt
Kollation: xxii, 99 Seiten
Datum der mündlichen Prüfung: 16 November 2022
DOI: 10.26083/tuprints-00023782
URL / URN: https://tuprints.ulb.tu-darmstadt.de/23782
Kurzbeschreibung (Abstract):

It took just ten years for LEDs to become the most successful lighting technology by market share. Their high energy efficiency and long lifetime make them the first choice in many lighting applications. However, failures of LED based luminaires can still be observed. If public lighting installations such as street lights fail it can even make the news. Previous research has shown that the driver is the culprit in most of these cases. This work tries to answer how long modern drivers can survive in a given environmental condition, which external factors and driver properties affect the lifetime and what the lifetime limiting failure modes are.

An accelerated lifetime study with a total of 75 tested devices is conducted and its results are analysed. Four different environmental conditions are selected for the tests, namely dry heat at 85 °C and damp heat at 65 °C and 90 % relative humidity as well as 75 °C / 75 % and 85 °C / 85 %. During testing 39 failures are observed. A first analysis focuses on the degradation of aluminium electrolytic capacitors in dry heat. It can be shown that the parametric changes are negligible. This is followed by a forensic failure mode analysis that successfully uncovers the failure modes of 27 failed devices. Dielectric breakdown of the PCB and IC package defects are determined to be the most common failure causes. It is also demonstrated that MOVs are at risk of failing in certain circuit configurations.

Two physical accelerated failure time models get fitted for three drivers with complete datasets. Plotting the resulting lifetime model for a range of temperature/humidity combinations shows that these drivers will likely outlast the lifetime guaranteed by the manufacturer in their respective data sheets. An extension is proposed to apply the models to three drivers whose datasets contain right-censored values. It can be demonstrated that these drivers will meet the guaranteed lifetime as well. The Cox Proportional Hazards model, a model from the field of survival analysis, is applied to the data from the 85 °C / 85 % condition to identify driver properties that affect the lifetime. The three best fitting models are selected and their parameters are whether a driver's output current is programmable, its maximum output power in Watt and which PCB substrate was used for the circuit assembly. Based on the previous results a list of recommendations for future off-line driver designs is compiled.

In conclusion, this work demonstrates that modern off-line LED drivers can reach the manufacturer specified lifetimes based on the results of the accelerated life study. Drivers fail if subjected to high levels of humidity. Choosing FR-4 as the PCB substrate can significantly lower a driver's risk of failure. If it fails, the most common failure modes are dielectric breakdown of the PCB and a defect of an IC package.

Alternatives oder übersetztes Abstract:
Alternatives AbstractSprache

Innerhalb von nur zehn Jahren haben LEDs den größten Marktanteil im Bereich der Beleuchtung erobert. Dank ihrer hohen Energieeffizienz und langen Lebensdauer sind sie die erste Wahl für viele Anwendungen. Jedoch werden immer noch Ausfälle von LED basierten Leuchten beobachtet. Im Fall von defekten Straßenleuchten wird darüber sogar in der Zeitung berichtet. Vorangegangene Untersuchungen haben gezeigt, dass die meisten Ausfälle auf das Betriebsgerät zurückzuführen sind. Diese Arbeit versucht zu klären wie lange moderne netzbetriebene Betriebsgeräte in einer gegebenen Umgebungsbedingung überleben können, welche Umweltfaktoren und Eigenschaften des Betriebsgerätes die Lebensdauer maßgeblich beeinflussen und welches die die Lebensdauer begrenzenden Ausfallmechanismen sind.

Es wird eine beschleunigte Lebensdauerstudie mit insgesamt 75 geprüften Geräten vorgestellt und ihre Ergebnisse werden analysiert. Die Tests werden bei vier Umgebungsbedingungen durchgeführt: trockene Hitze bei 85 °C sowie feuchte Hitze bei 65 °C und 90 % relativer Luftfeuchtigkeit sowie 75 °C / 75 % und 85 °C / 85 %. Während der Versuche fallen 39 Prüflinge aus. Eine erste Analyse widmet sich der Degradation der Aluminium-Elektrolytkondensatoren in trockener Hitze. Es kann gezeigt werden, dass diese vernachlässigbar ist. Nachfolgend wird die Ausfallursache von 27 Prüflingen mittels einer forensischen Untersuchung bestimmt. Am häufigsten sind dabei Kurzschlüsse im Leiterplattensubstrat und Defekte von IC Gehäusen zu beobachten. Es kann ebenfalls gezeigt werden, dass Metalloxid-Varistoren in bestimmten Schaltungskonfigurationen gehäuft ausfallen.

Für drei Betriebsgerätetypen, für die vollständige Datensätze vorliegen, werden die Parameter von zwei physikalischen Lebensdauermodellen bestimmt. Anhand einer grafischen Auswertung dieser Modelle wird gezeigt, dass diese Treiber mit großer Wahrscheinlichkeit länger betrieben werden können als vom Hersteller garantiert wird. Dank eines erweiterten Ansatzes können die Modellparameter auch noch für drei Geräte mit rechts-zensierten Datenpunkten bestimmt werden. Auch diese werden höchstwahrscheinlich die vom Hersteller angegebenen Lebensdauern erreichen. Mit Hilfe der Cox Regression, einer Methode aus dem Bereich der Ereigniszeitanalyse, kann bestimmt werden welche Eigenschaften des Betriebsgerätes maßgeblichen Einfluss auf dessen Lebensdauer haben. Die Modellparameter werden für die Ausfälle bei 85 °C / 85 % berechnet. Nachdem die drei besten Modelle anhand eines Anpassungsmaßes ausgewählt worden sind, zeigt sich, dass die maximale Ausgangsleistung, die Einstellbarkeit des Ausgangsstromes und das verwendete Leiterplattensubstrat die entscheidenden Eigenschaften sind. Ausgehend von diesen Erkenntnissen werden Empfehlungen für künftige Schaltungsentwürfe gegeben.

Diese Arbeit kann anhand einer beschleunigten Lebensdauerstudie zeigen, dass moderne netzbetriebene Betriebsgeräte die von den Herstellern angegebenen Lebensdauern erreichen können. Ausfälle können jedoch beobachtet werden, wenn die Geräte hoher Luftfeuchtigkeit ausgesetzt sind. Der Einsatz von FR-4 als Leiterplattensubstrat kann die Lebensdauer signifikant erhöhen. Falls die Geräte dennoch ausfallen, so sind Kurzschlüsse im Leiterplattensubstrat und Defekte an IC Gehäusen die häufigsten Ursachen.

Deutsch
Status: Verlagsversion
URN: urn:nbn:de:tuda-tuprints-237821
Sachgruppe der Dewey Dezimalklassifikatin (DDC): 600 Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften > 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Datentechnik
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Datentechnik > Integrierte Elektronische Systeme (IES)
Hinterlegungsdatum: 31 Mai 2023 11:47
Letzte Änderung: 06 Jun 2023 09:04
PPN:
Referenten: Hofmann, Prof. Dr. Klaus ; Khanh, Prof. Dr. Tran Quoc
Datum der mündlichen Prüfung / Verteidigung / mdl. Prüfung: 16 November 2022
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