Riehl, David ; Hofmann, Klaus (2022)
Modeling the Impact of BGA-Sockets on Signal Integrity in High-Speed Testing of Memory Components with the help of CST-Studio Full Field EM Simulations.
SIMULIA Regional User Meeting EUROCENTRAL 2022. Hanau, Germany (03.05.2022-05.05.2022)
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Konferenzveröffentlichung |
|---|---|
| Erschienen: | 2022 |
| Autor(en): | Riehl, David ; Hofmann, Klaus |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Modeling the Impact of BGA-Sockets on Signal Integrity in High-Speed Testing of Memory Components with the help of CST-Studio Full Field EM Simulations |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 4 Mai 2022 |
| Veranstaltungstitel: | SIMULIA Regional User Meeting EUROCENTRAL 2022 |
| Veranstaltungsort: | Hanau, Germany |
| Veranstaltungsdatum: | 03.05.2022-05.05.2022 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Datentechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Datentechnik > Integrierte Elektronische Systeme (IES) |
| Hinterlegungsdatum: | 05 Mai 2022 07:45 |
| Letzte Änderung: | 05 Mai 2022 07:45 |
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