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A blackbox yield estimation workflow with Gaussian process regression applied to the design of electromagnetic devices

Fuhrländer, Mona ; Schöps, Sebastian (2022)
A blackbox yield estimation workflow with Gaussian process regression applied to the design of electromagnetic devices.
In: Journal of Mathematics in Industry, 2022, 10
doi: 10.26083/tuprints-00021111
Artikel, Zweitveröffentlichung, Verlagsversion

Kurzbeschreibung (Abstract)

In this paper an efficient and reliable method for stochastic yield estimation is presented. Since one main challenge of uncertainty quantification is the computational feasibility, we propose a hybrid approach where most of the Monte Carlo sample points are evaluated with a surrogate model, and only a few sample points are reevaluated with the original high fidelity model. Gaussian process regression is a non-intrusive method which is used to build the surrogate model. Without many prerequisites, this gives us not only an approximation of the function value, but also an error indicator that we can use to decide whether a sample point should be reevaluated or not. For two benchmark problems, a dielectrical waveguide and a lowpass filter, the proposed methods outperform classic approaches.

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 2022
Autor(en): Fuhrländer, Mona ; Schöps, Sebastian
Art des Eintrags: Zweitveröffentlichung
Titel: A blackbox yield estimation workflow with Gaussian process regression applied to the design of electromagnetic devices
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 2022
Publikationsdatum der Erstveröffentlichung: 2022
Verlag: Springer Nature
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Journal of Mathematics in Industry
Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: 10
Kollation: 17 Seiten
DOI: 10.26083/tuprints-00021111
URL / URN: https://tuprints.ulb.tu-darmstadt.de/21111
Zugehörige Links:
Herkunft: Zweitveröffentlichung aus gefördertem Golden Open Access
Kurzbeschreibung (Abstract):

In this paper an efficient and reliable method for stochastic yield estimation is presented. Since one main challenge of uncertainty quantification is the computational feasibility, we propose a hybrid approach where most of the Monte Carlo sample points are evaluated with a surrogate model, and only a few sample points are reevaluated with the original high fidelity model. Gaussian process regression is a non-intrusive method which is used to build the surrogate model. Without many prerequisites, this gives us not only an approximation of the function value, but also an error indicator that we can use to decide whether a sample point should be reevaluated or not. For two benchmark problems, a dielectrical waveguide and a lowpass filter, the proposed methods outperform classic approaches.

Status: Verlagsversion
URN: urn:nbn:de:tuda-tuprints-211115
Zusätzliche Informationen:

Keywords: Yield analysis; Failure probability; Uncertainty quantification; Monte Carlo; Gaussian process regression; Surrogate model; Blackbox

Sachgruppe der Dewey Dezimalklassifikatin (DDC): 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 510 Mathematik
600 Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften > 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Teilchenbeschleunigung und Theorie Elektromagnetische Felder > Computational Electromagnetics
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Teilchenbeschleunigung und Theorie Elektromagnetische Felder
Hinterlegungsdatum: 08 Apr 2022 11:56
Letzte Änderung: 12 Apr 2022 09:44
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