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Backreflection diagnostics for ultra-intense laser plasma experiments based on frequency resolved optical gating

Wagner, F. ; Hornung, J. ; Schmidt, C. ; Eckhardt, M. ; Roth, M. ; Stöhlker, T. ; Bagnoud, V. (2017)
Backreflection diagnostics for ultra-intense laser plasma experiments based on frequency resolved optical gating.
In: Review of Scientific Instruments, 88 (2)
doi: 10.1063/1.4975827
Artikel, Bibliographie

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 2017
Autor(en): Wagner, F. ; Hornung, J. ; Schmidt, C. ; Eckhardt, M. ; Roth, M. ; Stöhlker, T. ; Bagnoud, V.
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Backreflection diagnostics for ultra-intense laser plasma experiments based on frequency resolved optical gating
Sprache: Deutsch
Publikationsjahr: 14 Februar 2017
Verlag: AIP Publishing
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Review of Scientific Instruments
Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: 88
(Heft-)Nummer: 2
DOI: 10.1063/1.4975827
Zusätzliche Informationen:

Art.No.: 023503

Fachbereich(e)/-gebiet(e): 05 Fachbereich Physik
05 Fachbereich Physik > Institut für Kernphysik
05 Fachbereich Physik > Institut für Kernphysik > Experimentelle Kernphysik
05 Fachbereich Physik > Institut für Kernphysik > Experimentelle Kernphysik > Laser- und Plasmaphysik
Hinterlegungsdatum: 12 Apr 2022 09:48
Letzte Änderung: 12 Apr 2022 09:48
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