Keil, Ferdinand ; Benkner, Simon ; Khanh, Tran Quoc ; Hofmann, Klaus (2022)
Model-Based Analysis of Accelerated Lifetime Test Data of Off-Line LED Drivers.
34. Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2022). Bremerhaven, Germany (27.02.2022-01.03.2022)
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
URL / URN: http://www.informatik.uni-bremen.de/tuz/2022
| Typ des Eintrags: | Konferenzveröffentlichung |
|---|---|
| Erschienen: | 2022 |
| Autor(en): | Keil, Ferdinand ; Benkner, Simon ; Khanh, Tran Quoc ; Hofmann, Klaus |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Model-Based Analysis of Accelerated Lifetime Test Data of Off-Line LED Drivers |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 28 Februar 2022 |
| Veranstaltungstitel: | 34. Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2022) |
| Veranstaltungsort: | Bremerhaven, Germany |
| Veranstaltungsdatum: | 27.02.2022-01.03.2022 |
| URL / URN: | http://www.informatik.uni-bremen.de/tuz/2022 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Datentechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Datentechnik > Integrierte Elektronische Systeme (IES) |
| Hinterlegungsdatum: | 21 Mär 2022 10:19 |
| Letzte Änderung: | 21 Mär 2022 10:19 |
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