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Thickness and Morphology Dependent Electrical Properties of ALD‐Synthesized MoS 2 FETs

Mahlouji, Reyhaneh ; Verheijen, Marcel A. ; Zhang, Yue ; Hofmann, Jan P. ; Kessels, Wilhelmus. M. M. (Erwin) ; Bol, Ageeth A. (2021)
Thickness and Morphology Dependent Electrical Properties of ALD‐Synthesized MoS 2 FETs.
In: Advanced Electronic Materials
doi: 10.1002/aelm.202100781
Artikel, Bibliographie

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 2021
Autor(en): Mahlouji, Reyhaneh ; Verheijen, Marcel A. ; Zhang, Yue ; Hofmann, Jan P. ; Kessels, Wilhelmus. M. M. (Erwin) ; Bol, Ageeth A.
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Thickness and Morphology Dependent Electrical Properties of ALD‐Synthesized MoS 2 FETs
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 2021
Verlag: Wiley
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Advanced Electronic Materials
DOI: 10.1002/aelm.202100781
Zusätzliche Informationen:

Artikel-ID 2100781

Fachbereich(e)/-gebiet(e): 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Oberflächenforschung
Hinterlegungsdatum: 13 Jan 2022 06:40
Letzte Änderung: 13 Jan 2022 06:40
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