Mahlouji, Reyhaneh ; Verheijen, Marcel A. ; Zhang, Yue ; Hofmann, Jan P. ; Kessels, Wilhelmus. M. M. (Erwin) ; Bol, Ageeth A. (2021)
Thickness and Morphology Dependent Electrical Properties of ALD‐Synthesized MoS 2 FETs.
In: Advanced Electronic Materials
doi: 10.1002/aelm.202100781
Artikel, Bibliographie
Typ des Eintrags: | Artikel |
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Erschienen: | 2021 |
Autor(en): | Mahlouji, Reyhaneh ; Verheijen, Marcel A. ; Zhang, Yue ; Hofmann, Jan P. ; Kessels, Wilhelmus. M. M. (Erwin) ; Bol, Ageeth A. |
Art des Eintrags: | Bibliographie |
Titel: | Thickness and Morphology Dependent Electrical Properties of ALD‐Synthesized MoS 2 FETs |
Sprache: | Englisch |
Publikationsjahr: | 2021 |
Verlag: | Wiley |
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Advanced Electronic Materials |
DOI: | 10.1002/aelm.202100781 |
Zusätzliche Informationen: | Artikel-ID 2100781 |
Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Oberflächenforschung |
Hinterlegungsdatum: | 13 Jan 2022 06:40 |
Letzte Änderung: | 13 Jan 2022 06:40 |
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