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Characterization of anisotropically conductive adhesive interconnections by 1/f noise measurements

Behner, Ulrich ; Haug, R. ; Schütz, R. ; Hartnagel, H. L. (1997)
Characterization of anisotropically conductive adhesive interconnections by 1/f noise measurements.
In: IEEE transactions on components, packaging and manufacturing technology, part A, 21 (2)
doi: 10.1109/95.705470
Artikel, Bibliographie

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 1997
Autor(en): Behner, Ulrich ; Haug, R. ; Schütz, R. ; Hartnagel, H. L.
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Characterization of anisotropically conductive adhesive interconnections by 1/f noise measurements
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 1997
Ort: New York, NY
Verlag: IEEE
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: IEEE transactions on components, packaging and manufacturing technology, part A
Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: 21
(Heft-)Nummer: 2
DOI: 10.1109/95.705470
Zusätzliche Informationen:

1. IEEE International Symposium on Polymeric Electronics Packaging, Norrköping, Sweden, October 26-30, 1997

Fachbereich(e)/-gebiet(e): 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Mikrowellenelektronik
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 16:22
Letzte Änderung: 08 Mai 2024 08:54
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