Behner, Ulrich ; Haug, R. ; Schütz, R. ; Hartnagel, H. L. (1997)
Characterization of anisotropically conductive adhesive interconnections by 1/f noise measurements.
In: IEEE transactions on components, packaging and manufacturing technology, part A, 21 (2)
doi: 10.1109/95.705470
Artikel, Bibliographie
Typ des Eintrags: | Artikel |
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Erschienen: | 1997 |
Autor(en): | Behner, Ulrich ; Haug, R. ; Schütz, R. ; Hartnagel, H. L. |
Art des Eintrags: | Bibliographie |
Titel: | Characterization of anisotropically conductive adhesive interconnections by 1/f noise measurements |
Sprache: | Englisch |
Publikationsjahr: | 1997 |
Ort: | New York, NY |
Verlag: | IEEE |
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | IEEE transactions on components, packaging and manufacturing technology, part A |
Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 21 |
(Heft-)Nummer: | 2 |
DOI: | 10.1109/95.705470 |
Zusätzliche Informationen: | 1. IEEE International Symposium on Polymeric Electronics Packaging, Norrköping, Sweden, October 26-30, 1997 |
Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Mikrowellenelektronik |
Hinterlegungsdatum: | 19 Nov 2008 16:22 |
Letzte Änderung: | 08 Mai 2024 08:54 |
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