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Transmission Electron-Microscopy Characterization of a Ceria-Fluxed Silicon Nitride

Kleebe, H.-J. ; Cinibulk, M. K. (1993)
Transmission Electron-Microscopy Characterization of a Ceria-Fluxed Silicon Nitride.
In: Journal of Materials Science Letters, 12 (2)
doi: 10.1007/BF00241851
Artikel, Bibliographie

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 1993
Autor(en): Kleebe, H.-J. ; Cinibulk, M. K.
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Transmission Electron-Microscopy Characterization of a Ceria-Fluxed Silicon Nitride
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 1993
Verlag: Springer
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Journal of Materials Science Letters
Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: 12
(Heft-)Nummer: 2
DOI: 10.1007/BF00241851
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Geowissenschaften
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Geowissenschaften > Fachgebiet Geomaterialwissenschaft
Hinterlegungsdatum: 17 Nov 2021 12:07
Letzte Änderung: 17 Nov 2021 12:07
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