TU Darmstadt / ULB / TUbiblio

Interface structure of a chlorine-doped Si3N4 studied by high-resolution transmission electron microscopy

Kleebe, H.-J. ; Pezzotti, G. ; Nishida, T. (1997)
Interface structure of a chlorine-doped Si3N4 studied by high-resolution transmission electron microscopy.
In: Journal of Materials Science Letters, 16 (6)
doi: 10.1023/a:1018552024044
Artikel, Bibliographie

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 1997
Autor(en): Kleebe, H.-J. ; Pezzotti, G. ; Nishida, T.
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Interface structure of a chlorine-doped Si3N4 studied by high-resolution transmission electron microscopy
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 1997
Verlag: Springer
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Journal of Materials Science Letters
Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: 16
(Heft-)Nummer: 6
DOI: 10.1023/a:1018552024044
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Geowissenschaften
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Geowissenschaften > Fachgebiet Geomaterialwissenschaft
Hinterlegungsdatum: 17 Nov 2021 12:07
Letzte Änderung: 17 Nov 2021 12:07
PPN:
Export:
Suche nach Titel in: TUfind oder in Google
Frage zum Eintrag Frage zum Eintrag

Optionen (nur für Redakteure)
Redaktionelle Details anzeigen Redaktionelle Details anzeigen