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In situ SEM imaging at temperatures as high as 1450 degrees C

Gregori, G. ; Kleebe, H.-J. ; Siegelin, F. ; Ziegler, G. (2002)
In situ SEM imaging at temperatures as high as 1450 degrees C.
In: Journal of Electron Microscopy, 51 (6)
doi: 10.1093/jmicro/51.6.347
Artikel, Bibliographie

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 2002
Autor(en): Gregori, G. ; Kleebe, H.-J. ; Siegelin, F. ; Ziegler, G.
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: In situ SEM imaging at temperatures as high as 1450 degrees C
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 2002
Verlag: Oxford Univ. Press
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Journal of Electron Microscopy
Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: 51
(Heft-)Nummer: 6
DOI: 10.1093/jmicro/51.6.347
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Geowissenschaften
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Geowissenschaften > Fachgebiet Geomaterialwissenschaft
Hinterlegungsdatum: 17 Nov 2021 12:07
Letzte Änderung: 18 Nov 2021 08:29
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