Siegelin, F. ; Kleebe, H.-J. ; Sigl, L. S. (2003)
Interface characteristics affecting electrical properties of Y-doped SiC.
In: Journal of Materials Research, 18 (11)
doi: 10.1557/jmr.2003.0365
Artikel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2003 |
| Autor(en): | Siegelin, F. ; Kleebe, H.-J. ; Sigl, L. S. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Interface characteristics affecting electrical properties of Y-doped SiC |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 2003 |
| Verlag: | Springer Nature |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Journal of Materials Research |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 18 |
| (Heft-)Nummer: | 11 |
| DOI: | 10.1557/jmr.2003.0365 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Geowissenschaften 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Geowissenschaften > Fachgebiet Geomaterialwissenschaft |
| Hinterlegungsdatum: | 17 Nov 2021 12:07 |
| Letzte Änderung: | 17 Nov 2021 12:07 |
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