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Simulation und Auswirkung umweltbedingter Geometriefehler in kapazitiven mikromechanischen Beschleunigungssensoren

Langheinrich, Werner A. ; Killat, Dirk ; Schilling, Frank
Hrsg.: Sessler, Gerhard M. (1994)
Simulation und Auswirkung umweltbedingter Geometriefehler in kapazitiven mikromechanischen Beschleunigungssensoren.
ITG-Fachtagung. Bad Nauheim (14. bis 16. März 1994)
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

Typ des Eintrags: Konferenzveröffentlichung
Erschienen: 1994
Herausgeber: Sessler, Gerhard M.
Autor(en): Langheinrich, Werner A. ; Killat, Dirk ; Schilling, Frank
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Simulation und Auswirkung umweltbedingter Geometriefehler in kapazitiven mikromechanischen Beschleunigungssensoren
Sprache: Deutsch
Publikationsjahr: 1994
Ort: Berlin
Verlag: VDE
Buchtitel: Sensoren-Technologie und ihre Anwendung
Reihe: ITG-Fachberichte
Band einer Reihe: 126
Veranstaltungstitel: ITG-Fachtagung
Veranstaltungsort: Bad Nauheim
Veranstaltungsdatum: 14. bis 16. März 1994
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 16:22
Letzte Änderung: 18 Jan 2024 12:34
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