Deuermeier, Jonas ; Fortunato, Elvira ; Martins, Rodrigo ; Klein, Andreas (2021)
Energy band alignment at the nanoscale.
In: Applied Physics Letters, 2017, 110 (5)
doi: 10.26083/tuprints-00019852
Artikel, Zweitveröffentlichung, Verlagsversion
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Kurzbeschreibung (Abstract)
The energy band alignments at interfaces often determine the electrical functionality of a device. Along with the size reduction into the nanoscale, functional coatings become thinner than a nanometer. With the traditional analysis of the energy band alignment by in situ photoelectron spectroscopy, a critical film thickness is needed to determine the valence band offset. By making use of the Auger parameter, it becomes possible to determine the energy band alignment to coatings, which are only a few Ångström thin. This is demonstrated with experimental data of Cu₂O on different kinds of substrate materials.
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2021 |
| Autor(en): | Deuermeier, Jonas ; Fortunato, Elvira ; Martins, Rodrigo ; Klein, Andreas |
| Art des Eintrags: | Zweitveröffentlichung |
| Titel: | Energy band alignment at the nanoscale |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 2021 |
| Publikationsdatum der Erstveröffentlichung: | 2017 |
| Verlag: | AIP Publishing |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Applied Physics Letters |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 110 |
| (Heft-)Nummer: | 5 |
| Kollation: | 4 Seiten |
| DOI: | 10.26083/tuprints-00019852 |
| URL / URN: | https://tuprints.ulb.tu-darmstadt.de/19852 |
| Zugehörige Links: | |
| Herkunft: | Zweitveröffentlichungsservice |
| Kurzbeschreibung (Abstract): | The energy band alignments at interfaces often determine the electrical functionality of a device. Along with the size reduction into the nanoscale, functional coatings become thinner than a nanometer. With the traditional analysis of the energy band alignment by in situ photoelectron spectroscopy, a critical film thickness is needed to determine the valence band offset. By making use of the Auger parameter, it becomes possible to determine the energy band alignment to coatings, which are only a few Ångström thin. This is demonstrated with experimental data of Cu₂O on different kinds of substrate materials. |
| Status: | Verlagsversion |
| URN: | urn:nbn:de:tuda-tuprints-198522 |
| Sachgruppe der Dewey Dezimalklassifikatin (DDC): | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Oberflächenforschung DFG-Sonderforschungsbereiche (inkl. Transregio) DFG-Sonderforschungsbereiche (inkl. Transregio) > Sonderforschungsbereiche DFG-Sonderforschungsbereiche (inkl. Transregio) > Sonderforschungsbereiche > SFB 595: Elektrische Ermüdung DFG-Sonderforschungsbereiche (inkl. Transregio) > Sonderforschungsbereiche > SFB 595: Elektrische Ermüdung > D - Bauteileigenschaften DFG-Sonderforschungsbereiche (inkl. Transregio) > Sonderforschungsbereiche > SFB 595: Elektrische Ermüdung > D - Bauteileigenschaften > Teilprojekt D3: Funktion und Ermüdung oxidischer Elektroden in organischen Leuchtdioden |
| Hinterlegungsdatum: | 11 Nov 2021 13:15 |
| Letzte Änderung: | 12 Nov 2021 07:49 |
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Verfügbare Versionen dieses Eintrags
- Energy band alignment at the nanoscale. (deposited 11 Nov 2021 13:15) [Gegenwärtig angezeigt]
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