Eichhorn, Anna L. ; Dietz, Christian (2021)
Simultaneous Deconvolution of In‐Plane and Out‐of‐Plane Forces of HOPG at the Atomic Scale under Ambient Conditions by Multifrequency Atomic Force Microscopy.
In: Advanced Materials Interfaces, 8 (20)
doi: 10.1002/admi.202101288
Artikel, Bibliographie
Dies ist die neueste Version dieses Eintrags.
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2021 |
| Autor(en): | Eichhorn, Anna L. ; Dietz, Christian |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Simultaneous Deconvolution of In‐Plane and Out‐of‐Plane Forces of HOPG at the Atomic Scale under Ambient Conditions by Multifrequency Atomic Force Microscopy |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 29 September 2021 |
| Verlag: | Wiley |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Advanced Materials Interfaces |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 8 |
| (Heft-)Nummer: | 20 |
| DOI: | 10.1002/admi.202101288 |
| URL / URN: | https://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/admi.202101288 |
| Zugehörige Links: | |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Physics of Surfaces |
| Hinterlegungsdatum: | 13 Okt 2021 06:35 |
| Letzte Änderung: | 12 Dez 2023 07:59 |
| PPN: | |
| Export: | |
| Suche nach Titel in: | TUfind oder in Google |
Verfügbare Versionen dieses Eintrags
-
Simultaneous Deconvolution of In‐Plane and Out‐of‐Plane Forces of HOPG at the Atomic Scale under Ambient Conditions by Multifrequency Atomic Force Microscopy. (deposited 11 Dez 2023 13:45)
- Simultaneous Deconvolution of In‐Plane and Out‐of‐Plane Forces of HOPG at the Atomic Scale under Ambient Conditions by Multifrequency Atomic Force Microscopy. (deposited 13 Okt 2021 06:35) [Gegenwärtig angezeigt]
 |
Frage zum Eintrag |
Optionen (nur für Redakteure)
 |
Redaktionelle Details anzeigen |
Drucken
Impressum