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Room Temperature KlettWelding Interconnect Technology for High Performance CMOS Logic

Roustaie, Farough ; Quednau, Sebastian ; Weissenborn, Florian ; Birlem, Olav ; Riehl, David ; Ding, Xiang ; Kramer, Andreas ; Hofmann, Klaus (2021)
Room Temperature KlettWelding Interconnect Technology for High Performance CMOS Logic.
71st Electronic Components and Technology Conference (ECTC 2021). virtual Conference (01.07.2021-04.07.2021)
doi: 10.1109/ECTC32696.2021.00069
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

Typ des Eintrags: Konferenzveröffentlichung
Erschienen: 2021
Autor(en): Roustaie, Farough ; Quednau, Sebastian ; Weissenborn, Florian ; Birlem, Olav ; Riehl, David ; Ding, Xiang ; Kramer, Andreas ; Hofmann, Klaus
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Room Temperature KlettWelding Interconnect Technology for High Performance CMOS Logic
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 10 August 2021
Verlag: IEEE
Buchtitel: Proceedings: IEEE 71st Electronic Components and Technology Conference: ECTC 2021
Veranstaltungstitel: 71st Electronic Components and Technology Conference (ECTC 2021)
Veranstaltungsort: virtual Conference
Veranstaltungsdatum: 01.07.2021-04.07.2021
DOI: 10.1109/ECTC32696.2021.00069
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Datentechnik
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Datentechnik > Integrierte Elektronische Systeme (IES)
Hinterlegungsdatum: 23 Aug 2021 07:32
Letzte Änderung: 15 Aug 2024 09:38
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