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Determination of the thickness of nm layers by electron probe microanalysis

Weinbruch, Stephan ; Möller, A. ; Stadermann, F. J. :
Determination of the thickness of nm layers by electron probe microanalysis.
In: Mineralogie 1995: Gemeinschaftstagung der Soc. Francaise de Mineralog. et de Christallograph., der Dt. Mineralog. Ges. u. der Österr. Mineralog. Ges. <73, 1995, Straßburg>: Referate. Red.: W.V. Maresch. S. 236. - Stuttgart: Schweizerbart, 1995 , Vol7,N . Schweizerbart , Stuttgart
[Konferenz- oder Workshop-Beitrag], (1995)

Typ des Eintrags: Konferenz- oder Workshop-Beitrag (Keine Angabe)
Erschienen: 1995
Autor(en): Weinbruch, Stephan ; Möller, A. ; Stadermann, F. J.
Titel: Determination of the thickness of nm layers by electron probe microanalysis
Sprache: Englisch
Reihe: Mineralogie 1995: Gemeinschaftstagung der Soc. Francaise de Mineralog. et de Christallograph., der Dt. Mineralog. Ges. u. der Österr. Mineralog. Ges. <73, 1995, Straßburg>: Referate. Red.: W.V. Maresch. S. 236. - Stuttgart: Schweizerbart, 1995
Band: Vol7,N
Ort: Stuttgart
Verlag: Schweizerbart
Fachbereich(e)/-gebiet(e): FB Materialwissenschaft (aufgegangen in FB11)
Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Geowissenschaften > Umweltmineralogie
Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Geowissenschaften
Fachbereich Material- und Geowissenschaften
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 16:22
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