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Determination of the thickness of nm layers by electron probe microanalysis

Weinbruch, Stephan and Möller, A. and Stadermann, F. J. (1995):
Determination of the thickness of nm layers by electron probe microanalysis.
Stuttgart, Schweizerbart, In: Mineralogie 1995: Gemeinschaftstagung der Soc. Francaise de Mineralog. et de Christallograph., der Dt. Mineralog. Ges. u. der Österr. Mineralog. Ges. <73, 1995, Straßburg>: Referate. Red.: W.V. Maresch. S. 236. - Stuttgart: Schweizerbart, 1995, [Conference or Workshop Item]

Item Type: Conference or Workshop Item
Erschienen: 1995
Creators: Weinbruch, Stephan and Möller, A. and Stadermann, F. J.
Title: Determination of the thickness of nm layers by electron probe microanalysis
Language: English
Series Name: Mineralogie 1995: Gemeinschaftstagung der Soc. Francaise de Mineralog. et de Christallograph., der Dt. Mineralog. Ges. u. der Österr. Mineralog. Ges. <73, 1995, Straßburg>: Referate. Red.: W.V. Maresch. S. 236. - Stuttgart: Schweizerbart, 1995
Volume: Vol7,N
Place of Publication: Stuttgart
Publisher: Schweizerbart
Divisions: 11 Department of Materials and Earth Sciences > Fachbereich Materialwissenschaft (1999 aufgegangen in 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften)
11 Department of Materials and Earth Sciences > Earth Science > Environmental Mineralogy
11 Department of Materials and Earth Sciences > Earth Science
11 Department of Materials and Earth Sciences
Date Deposited: 19 Nov 2008 16:22
License: [undefiniert]
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