Weinbruch, Stephan ; Möller, A. ; Stadermann, F. J. (1995)
Determination of the thickness of nm layers by electron probe microanalysis.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Konferenzveröffentlichung |
|---|---|
| Erschienen: | 1995 |
| Autor(en): | Weinbruch, Stephan ; Möller, A. ; Stadermann, F. J. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Determination of the thickness of nm layers by electron probe microanalysis |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 1995 |
| Ort: | Stuttgart |
| Verlag: | Schweizerbart |
| Reihe: | Mineralogie 1995: Gemeinschaftstagung der Soc. Francaise de Mineralog. et de Christallograph., der Dt. Mineralog. Ges. u. der Österr. Mineralog. Ges. <73, 1995, Straßburg>: Referate. Red.: W.V. Maresch. S. 236. - Stuttgart: Schweizerbart, 1995 |
| Band einer Reihe: | Vol7,N |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Fachbereich Materialwissenschaft (1999 aufgegangen in 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften) 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Geowissenschaften > Fachgebiet Umweltmineralogie 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Geowissenschaften 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften |
| Hinterlegungsdatum: | 19 Nov 2008 16:22 |
| Letzte Änderung: | 05 Mär 2013 08:45 |
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