Ochs, Steffen ; Slomski, Elena Maja ; Melz, Tobias (2017)
Stochastische Sensitivitätsmaße für smarte Systeme.
doi: 10.51202/9783181023075-151
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Konferenzveröffentlichung |
|---|---|
| Erschienen: | 2017 |
| Autor(en): | Ochs, Steffen ; Slomski, Elena Maja ; Melz, Tobias |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Stochastische Sensitivitätsmaße für smarte Systeme |
| Sprache: | Deutsch |
| Publikationsjahr: | 2017 |
| Ort: | Düsseldorf |
| Verlag: | VDI-Verlag |
| Buchtitel: | Technische Zuverlässigkeit 2017 - Entwicklung und Betrieb zuverlässiger Produkte : 28. VDI-Fachtagung, Leonberg bei Stuttgart, 17. und 18. Mai 2017 |
| DOI: | 10.51202/9783181023075-151 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 16 Fachbereich Maschinenbau 16 Fachbereich Maschinenbau > Fachgebiet Systemzuverlässigkeit, Adaptronik und Maschinenakustik (SAM) |
| Hinterlegungsdatum: | 10 Mai 2021 06:33 |
| Letzte Änderung: | 10 Mai 2021 06:33 |
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