Neue Entwicklungen zur Methode der Elektronenbeugung für die kristallographische Charakterisierung von nanostrukturierten Materialien haben in den letzten Jahren einige Aufmerksamkeit auf sich gezogen. Mit Hilfe dreidimensionaler Elektronenbeugungsdaten konnte bereits eine Vielzahl an Strukturanalysen von Verbindungen durchgeführt werden, die mit den zur Verfügung stehenden routinemäßig anwendbaren Röntgenmethoden nicht zugänglich waren. Die Verwendung eines Transmissionselektronenmikroskops als Elektron-Nanodiffraktometer hat sich als vorteilhaft erwiesen, wenn individuelle Beugungsdaten von einzelnen Nanokristallen erforderlich sind, beispielsweise in Phasenmischungen. Auf diesem Wege müssen die einzelnen Phasen nicht rein synthetisiert werden, was immer die Gefahr struktureller Veränderungen birgt. Die hier vorgestellte Arbeit beinhaltet die Entwicklung und Implementierung einer neuartigen und universellen Routine zur genauen und zuverlässigen Erfassung von Elektronenbeugungsdaten. Das Potenzial dieser neuen Datensammlungsstrategie zur Lösung verschiedener Kristallographieprobleme wird zunächst anhand von drei bekannten Materialien veranschaulicht. Darüber hinaus werden zwei unbekannte Kristallstrukturen aus kommerziellen Produkten vollständig bestimmt und verfeinert. Zum einen handelt es sich um einen organischen Farbstoff mit niedriger Symmetrie, zu anderen um eine inkommensurabel modulierte Struktur von Klinker einem Hauptbestandteil von Zement. Besonders die genaue Kenntnis der Kristallstrukturen in kommerziellen Phasenmischungen, wie der bisher nur teilweise beschriebenen Klinkerphase alpha'H -C2S, erlaubt die exakte Phasenanalyse von kommerziellen Phasenmischungen direkt aus dem Produktionsprozess und ebnet den Weg zur gezielten Erniedrigung der CO2-Bilanz von Zement.