Klein, Andreas ; Jaegermann, Wolfram (2020)
Review—Electronic Properties of 2D Layered Chalcogenide Surfaces and Interfaces grown by (quasi) van der Waals Epitaxy.
In: ECS Journal of Solid State Science and Technology, 9 (9)
doi: 10.1149/2162-8777/abb750
Artikel, Bibliographie
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| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2020 |
| Autor(en): | Klein, Andreas ; Jaegermann, Wolfram |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Review—Electronic Properties of 2D Layered Chalcogenide Surfaces and Interfaces grown by (quasi) van der Waals Epitaxy |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 5 Oktober 2020 |
| Verlag: | IOP Science |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | ECS Journal of Solid State Science and Technology |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 9 |
| (Heft-)Nummer: | 9 |
| DOI: | 10.1149/2162-8777/abb750 |
| URL / URN: | https://iopscience.iop.org/article/10.1149/2162-8777/abb750 |
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| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Elektronenstruktur von Materialien 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Oberflächenforschung |
| Hinterlegungsdatum: | 28 Okt 2020 07:31 |
| Letzte Änderung: | 03 Jul 2024 02:47 |
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Verfügbare Versionen dieses Eintrags
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Review - Electronic Properties of 2D Layered Chalcogenide Surfaces and Interfaces grown by (quasi) van der Waals Epitaxy. (deposited 28 Okt 2021 12:33)
- Review—Electronic Properties of 2D Layered Chalcogenide Surfaces and Interfaces grown by (quasi) van der Waals Epitaxy. (deposited 28 Okt 2020 07:31) [Gegenwärtig angezeigt]
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