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Entwicklung und Evaluierung großflächiger Dünnschichtmesstechnik am Beispiel gedruckter organischer Leuchtdioden

Daume, Dominik (2020)
Entwicklung und Evaluierung großflächiger Dünnschichtmesstechnik am Beispiel gedruckter organischer Leuchtdioden.
Technische Universität Darmstadt
doi: 10.25534/tuprints-00012879
Dissertation, Erstveröffentlichung

Kurzbeschreibung (Abstract)

Um eine größere Bandbreite an OLED-Materialien, unter anderem auch photolumineszente, messen zu können, wird im Rahmen dieser Arbeit bestehende reflektometrische Messtechnik neu ausgelegt und weiterentwickelt; darüber hinaus werden neuartige Messtechnikkonzepte auf Basis des transmittierten Lichtes entwickelt. Durch die Weiterentwicklung der Messtechnik werden auch erstmalig komplexe Mehrschichtstapel verschiedener OLED-Materialien großflächig charakterisiert. Die mittels der neuen Messtechnik messbare Fläche beträgt bis zu 15000

Typ des Eintrags: Dissertation
Erschienen: 2020
Autor(en): Daume, Dominik
Art des Eintrags: Erstveröffentlichung
Titel: Entwicklung und Evaluierung großflächiger Dünnschichtmesstechnik am Beispiel gedruckter organischer Leuchtdioden
Sprache: Deutsch
Referenten: Dörsam, Prof. Dr. Edgar ; Khanh, Prof. Dr. Tran Quoc
Publikationsjahr: 2020
Ort: Darmstadt
Datum der mündlichen Prüfung: 24 Juni 2020
DOI: 10.25534/tuprints-00012879
URL / URN: https://tuprints.ulb.tu-darmstadt.de/12879
Kurzbeschreibung (Abstract):

Um eine größere Bandbreite an OLED-Materialien, unter anderem auch photolumineszente, messen zu können, wird im Rahmen dieser Arbeit bestehende reflektometrische Messtechnik neu ausgelegt und weiterentwickelt; darüber hinaus werden neuartige Messtechnikkonzepte auf Basis des transmittierten Lichtes entwickelt. Durch die Weiterentwicklung der Messtechnik werden auch erstmalig komplexe Mehrschichtstapel verschiedener OLED-Materialien großflächig charakterisiert. Die mittels der neuen Messtechnik messbare Fläche beträgt bis zu 15000

Alternatives oder übersetztes Abstract:
Alternatives AbstractSprache

In order to be able to measure complex multilayer structures and a wide variety of materials, especially photo luminescent materials, already existing reflectometry measurement setups are newly designed and further developed. Also new measurement approaches on the basis of measuring the amount of absorbed and transmitted light are set up and characterized. Using these further developed setups complex multilayer structures consisting of different OLED-materials were measured on a large area for the first time. With this measurement setup an area of up to 150000

Englisch
URN: urn:nbn:de:tuda-tuprints-128792
Sachgruppe der Dewey Dezimalklassifikatin (DDC): 600 Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften > 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 16 Fachbereich Maschinenbau
16 Fachbereich Maschinenbau > Institut für Druckmaschinen und Druckverfahren (IDD)
16 Fachbereich Maschinenbau > Institut für Druckmaschinen und Druckverfahren (IDD) > Funktionales Drucken
Hinterlegungsdatum: 18 Aug 2020 12:12
Letzte Änderung: 25 Aug 2020 06:07
PPN:
Referenten: Dörsam, Prof. Dr. Edgar ; Khanh, Prof. Dr. Tran Quoc
Datum der mündlichen Prüfung / Verteidigung / mdl. Prüfung: 24 Juni 2020
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