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Measuring Boltzmann’s constant with a low-cost atomic force microscope: An undergraduate experiment

Shusteff, M. ; Burg, T. P. ; Manalis, S. R. (2006)
Measuring Boltzmann’s constant with a low-cost atomic force microscope: An undergraduate experiment.
In: American Journal of Physics, 74 (10)
doi: 10.1119/1.2335475
Artikel, Bibliographie

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 2006
Autor(en): Shusteff, M. ; Burg, T. P. ; Manalis, S. R.
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Measuring Boltzmann’s constant with a low-cost atomic force microscope: An undergraduate experiment
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 2006
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: American Journal of Physics
Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: 74
(Heft-)Nummer: 10
DOI: 10.1119/1.2335475
URL / URN: https://doi.org/10.1119/1.2335475
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Integrierte Mikro-Nano-Systeme
Hinterlegungsdatum: 17 Jun 2019 08:12
Letzte Änderung: 17 Jun 2019 08:12
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