Faoro, Raffaele ; Bassu, Margherita ; Mejia, Yara X. ; Stephan, Till ; Dudani, Nikunj ; Boeker, Christian ; Jakobs, Stefan ; Burg, Thomas P. (2018)
Aberration-corrected cryoimmersion light microscopy.
In: Proceedings of the National Academy of Sciences, 115 (6)
doi: 10.1073/pnas.1717282115
Artikel, Bibliographie
URL / URN: https://doi.org/10.1073/pnas.1717282115
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2018 |
| Autor(en): | Faoro, Raffaele ; Bassu, Margherita ; Mejia, Yara X. ; Stephan, Till ; Dudani, Nikunj ; Boeker, Christian ; Jakobs, Stefan ; Burg, Thomas P. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Aberration-corrected cryoimmersion light microscopy |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 2018 |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Proceedings of the National Academy of Sciences |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 115 |
| (Heft-)Nummer: | 6 |
| DOI: | 10.1073/pnas.1717282115 |
| URL / URN: | https://doi.org/10.1073/pnas.1717282115 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Integrierte Mikro-Nano-Systeme |
| Hinterlegungsdatum: | 17 Jun 2019 08:09 |
| Letzte Änderung: | 17 Jun 2019 08:09 |
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